Author(s):
E. O. Ofek, R. Laher, N. Law, J. Surace, D. Levitan, B. Sesar, A. Horesh, D. Poznanski, J. C. van Eyken, S. R. Kulkarni, P. Nugent, J. Zolkower, R. Walters, M. Sullivan, M. Agueros, L. Bildsten, J. Bloom, S. B. Cenko, A. Gal-Yam, C. Grillmair, G. Helou, M. M. Kasliwal, R. Quimby
